Analiza systemów pomiarowych dla właściwości mierzalnych
Cele szkolenia
Dla kogo?
osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym,
pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych,
osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów do kontroli wyrobu / nadzorowania procesu,
pracownicy działów jakości / kontroli jakości,
auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949,
osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).
Program szkolenia
1. Zdolność systemu pomiarowego:
- przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru,
- niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji,
- skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.
- niepoprawność wskazań (błąd systematyczny),
- powtarzalność i odtwarzalność (błędy przypadkowe),
- zmienność całkowita a zmienność własna procesu,
- rozdzielczość i rozróżnialność,
- wskaźniki zdolności: Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R, %PV, ndc,
- liniowość i stabilność systemu pomiarowego.
- procedura typu 1,
- procedura typu 2 (pełna – metoda rozstępów i średnich ARM),
- procedura typu 2 (uproszczona – metoda rozstępów RM),
- procedura typu 3.
- analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów – analiza przypadku,
- wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności Cg, Cgk – analiza typ 1 (samodzielne pomiary i interpretacja wyników),
- ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC (samodzielne pomiary i interpretacja wyników),
- analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów oraz metodą rozstępów,
- analiza graficzna wyników pomiarów – zaawansowane wnioskowanie o systemie pomiarowym.
Opcjonalnie, w zależności od zainteresowań Uczestników:
- analiza R&R typ 3 – analiza przypadku kontroli automatycznej,
- analiza stabilności systemu pomiarowego – karta kontrolna Xśr-R – analiza przypadku.
- w ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza R&R dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników – wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem,
- w przypadku przesłania przez Uczestnika nie później niż 14 dni przed szkoleniem opisu konkretnego problemu związanego z analizą R&R, w czasie ćwiczeń może odbyć się wspólna próba jego rozwiązania – wymagana pisemna zgoda Uczestnika na upublicznienie opisu problemu (bez nazw własnych).
Zastosowanie szkolenia
Analiza zdolności systemów pomiarowych stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, zmienność i tolerancję), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową. Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzjio zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu). Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”.
Korzyści dla firmy
W przypadku wykorzystania poznanej metody:
istotne zmniejszenie ryzyka wysłania do klienta wyrobu niezgodnego z powodu błędnych decyzji kontrolnych,
zmniejszenie ryzyka błędnych decyzji dotyczących stanu procesu (sterowania procesem),
zdobycie umiejętności pozwalających na samodzielne prowadzenie analiz R&R oraz dogłębną interpretację wyników nastawioną na planowanie trafnych działań korygujących,
poznanie efektywnej, empirycznej metody szacowania niepewności pomiaru,
możliwość weryfikacji poprawności doboru środków pomiarowych, szczególnie dla zadań pomiarowych związanych z dużym ryzykiem kosztów niezgodności,
zapoznanie się z możliwościami wspomagania komputerowego w zakresie analizy zdolności systemów pomiarowych – możliwość bezpłatnego uzyskania arkuszy obliczeniowych używanych w czasie szkolenia.?
Informacje dodatkowe
Szkolenie prowadzone zdalnie poprzez sesję wideokonferencji on-line z wykorzystaniem dedykowanych narzędzi.
Uczestnicy dostają link do otwarcia sesji. Materiały dostępne w wersji elektronicznej.
Trenerzy
Wybierz rodzaj szkolenia
Wybierz termin szkolenia
Brak dostępnych terminów
Pomyślnie dodano do koszyka
Analiza systemów pomiarowych dla właściwości mierzalnych
Wybierz pokrewne
Six Sigma - poziom Green Belt zjazd II
Symbol: 6S-GB II-ONL
Zobacz szkolenie
Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych
Symbol: MSARR-N
Zobacz szkolenieWprowadzenie do wdrożenia pomiarów 3D na hali produkcyjnej
Symbol: POM-3D
Zobacz szkolenie
Pomiary na maszynach współrzędnościowych
Symbol: POM-CMM-ONL
Zobacz szkolenieMasz pytania do tego szkolenia?
Skonsultuj się z naszym doradcą.